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硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。
更新時間：2025-09-04
型號：Filmetrics F3-sX
廠商性質：代理商
瀏覽量：5919
Filmetrics F3-sX半導體薄膜測量儀可以測試眾多半導體及電解層的厚度，可測大厚度達3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均
更新時間：2025-09-04型號：廠商性質：代理商瀏覽量：6030
Filmetrics F32薄膜厚度測量儀 使用F32可以簡單快速地在線測量膜厚。從對膜的頂部和底部反射光譜進行分析可得到實時厚度信息。
更新時間：2025-09-04型號：廠商性質：代理商瀏覽量：4744
Filmetrics F60薄膜厚度測量儀 電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點，并在幾秒鐘內提供厚度測量。 選擇數十種預定義的極坐標，矩形或線性地圖模式中的一種，或創建自己的地圖模式，不限制測量點的數量。 典型的49點圖形大約需要45秒。
更新時間：2025-09-04型號：廠商性質：代理商瀏覽量：3516
Filmetrics F40薄膜厚度測量儀 產品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米
更新時間：2025-09-04型號：廠商性質：代理商瀏覽量：4098
Filmetrics F54薄膜厚度測量儀能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米
更新時間：2025-09-04型號：廠商性質：代理商瀏覽量：5547