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非接觸式三維形貌儀

簡要描述：三維形貌儀通過集成一對單點，非接觸式，納米分辨率的彩色共聚焦傳感器與高速，納米編碼的X/Y/Z協(xié)調(diào)運動，QuickPRO-CUBE™捕獲同步的前，后和基準(zhǔn)表面3D點云地形，用于托盤中的單鏡頭或微鏡頭的幾何表征。

  • 產(chǎn)品型號：QuickPRO-CUBE
  • 廠商性質(zhì)：代理商
  • 產(chǎn)品資料：
  • 更新時間：2026-04-27
  • 訪  問  量： 33433

詳細(xì)介紹

三維形貌儀是一種用于測量三維表面形貌、輪廓和曲面特征的儀器。它可以通過激光或白光掃描技術(shù)獲取被測物體表面的三維形貌信息，并生成三維模型或曲面圖。三維形貌儀在工業(yè)制造、質(zhì)量控制、產(chǎn)品設(shè)計、醫(yī)療等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用，能夠提供高精度的表面形貌數(shù)據(jù)，幫助用戶進(jìn)行產(chǎn)品設(shè)計、檢測和分析。常見的三維形貌儀包括激光三維掃描儀、白光干涉儀等。

三維形貌儀通過集成一對單點，非接觸式，納米分辨率的彩色共聚焦傳感器與高速，納米編碼的X/Y/Z協(xié)調(diào)運動，QuickPRO-CUBE™捕獲同步的前，后和基準(zhǔn)表面3D點云地形，用于托盤中的單鏡頭或微鏡頭的幾何表征。形式不變運動架構(gòu)允許測量旋轉(zhuǎn)對稱和更復(fù)雜的非軸對稱或自由形狀，最大測量直徑為50mm(高達(dá)75mm外徑)。根據(jù)鏡頭直徑和3D點云采樣密度的不同，每個鏡頭每個表面的總測量時間從30秒到240秒不等。

測量的幾何參數(shù)包括：
· 相對于定義的集中度基準(zhǔn)的前后曲面頂點偏移量
· 相對于定義的傾斜基準(zhǔn)的前后表面楔角
· 前后總厚度變化（TTV）和中心厚度（CT）
· 前后表面凹陷/形狀誤差

三維形貌儀系統(tǒng)特性：
· 緊湊，臺式機(jī)組與環(huán)境外殼
· 雙單點、非接觸、可見光、彩色共聚焦傳感器，8kHz組合測量速率
· 震動不敏感和尺寸穩(wěn)定的Invar計量框架
· 納米編碼X/Y/Z協(xié)調(diào)運動與磁性直線電機(jī)和交叉滾子軸承快速光柵或螺旋掃描超過50mm (X)， 50mm (Y)， 50mm (Z)
· 自定義心夾具，精密快速連接，快速裝卸
· 用于單光學(xué)元件（最大外徑75mm）和微透鏡托盤的固定裝置
· 用戶友好的QuickPRO™儀器控制和數(shù)據(jù)采集軟件，用于傳感器優(yōu)化，自動定心，數(shù)據(jù)捕獲和協(xié)調(diào)運動測序
· CalcuSurf-3D™查看和分析軟件，用于多表面3D點云數(shù)據(jù)

非接觸式雙表面輪廓儀

 

QuickPRO-CUBE™非接觸式三維形貌儀采用彩色共聚焦納米級測量技術(shù)，全程非接觸無損檢測，可避免傳統(tǒng)接觸式測量對精密光學(xué)表面造成的劃傷風(fēng)險，適配高價值光學(xué)元件的高精度表征需求。設(shè)備搭載Invar 穩(wěn)計量框架，具備優(yōu)異的抗震動性與尺寸穩(wěn)定性，可在普通工業(yè)環(huán)境穩(wěn)定實現(xiàn)納米級測量，無需嚴(yán)苛恒溫實驗室，大幅降低使用門檻與場地要求。

雙傳感器同步采集前表面、后表面與基準(zhǔn)面三維點云，無需翻轉(zhuǎn)樣品即可完成雙面全參數(shù)檢測，配合高速光柵 / 螺旋掃描，單鏡頭測量僅需 30–240 秒，兼顧測量精度與檢測效率。設(shè)備可精準(zhǔn)輸出頂點偏移、楔角、中心厚度、總厚度變化（TTV）、面形誤差等核心幾何參數(shù)，全面滿足球面 / 非球面 / 自由曲面鏡片、微透鏡陣列、光通信元件、半導(dǎo)體光學(xué)組件的研發(fā)與質(zhì)控需求。

搭配 QuickPRO™儀器控制軟件與 CalcuSurf-3D™數(shù)據(jù)分析軟件，可實現(xiàn)自動定心、一鍵測量、三維數(shù)據(jù)可視化、檢測報表導(dǎo)出，操作簡潔高效。廣泛應(yīng)用于精密光學(xué)制造、光通信、半導(dǎo)體、醫(yī)療光學(xué)、航空航天光學(xué)及高?？蒲性核?，為光學(xué)元件的制程優(yōu)化、品質(zhì)管控、良率提升提供核心數(shù)據(jù)支撐，是光學(xué)領(lǐng)域三維形貌與幾何精度檢測的設(shè)備。

 

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