1.簡介

FR-IntSphere-AIO是一款獨立、緊湊且便攜的解決方案，能夠在寬光譜范圍內對任意表面的反射分量進行快速、細致且精確的表征。借助FR-IntSphere-AIO，用戶可以精確測量 380-1000nm 光譜范圍內的全反射、漫反射和鏡面反射。 FR-IntSphere-AIO將穩定的VIS/NIR光源、高品質的30mm 或50mm積分球，以及高靈敏度、高光學分辨率的光譜儀集成在一個緊湊的外殼中，無需額外模塊即可實現精確的反射率測量。內置的積分球采用了高反射率的朗伯體PTFE（聚四氟乙烯）涂層，樣品端口直徑為 10mm，設計人性化，操作

簡便。入射端口和出射端口相對于法線方向呈   8°角布置，通過光陷阱抑制樣品的鏡面反射，從而實現對漫反射率的測量。當用與積分球內表面相同材料制成的光澤陷阱替換光陷阱時，即可測量總反射率。

2.產品特點

3.技術規格

工作原理

反射率測量的工作原理。將樣品放置在頂部，待測面朝向積分球的樣品口。光譜儀和光源安裝在機箱內部，并連接到相應的端口。

使用 FR-IntSphere-AIO-LC ，對高反射率 PTFE（聚四氟乙烯）、未拋光硅片（Si）以及黑色陽極氧化鋁樣品進行的總反射率、漫反射率和鏡面反射率測量結果。